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10-22
美国EdgeTech冷镜露点仪DewMaster如何预防设备磨损在工业设备的“血液系统”——润滑油中,微量水分的存在如同隐形杀手,会加速金属部件的氧化腐蚀、破坏油膜完整性,甚至引发设备突发故障。美国EdgeTechDewMaster冷镜露点仪,凭借其水分检测能力,成为机械润滑油管理的“水分预警系统”,为设备提供从早期预警到准确干预的全周期保护。美国EdgeTech冷镜露点仪DewMaster如何预防设备磨损润滑油中的水分含量超过0.1%时,会降低其粘度指数,导致油膜厚度不足,...
10-22
美国EdgeTech冷镜露点仪DewMaster预防储罐呼吸阀冰堵在LNG(液化天然气)船的运输过程中,储罐呼吸阀的冰堵问题犹如悬在行业头顶的“达摩克利斯之剑”。当储罐内BOG(蒸发气)因温度波动导致水分凝结,呼吸阀出口若形成冰晶,轻则引发阀门卡死、气体泄漏,重则导致储罐超压破裂,造成灾难性后果。美国EdgeTechDewMaster冷镜露点仪,正以检测精度与智能化预警能力,为LNG船穿上了一层“隐形雨衣”。美国EdgeTech冷镜露点仪DewMaster预防储罐呼吸阀冰堵L...
10-21
在航空航天、汽车制造等精密焊接领域,氩弧焊因能形成高质量焊缝而被广泛应用。然而,这一工艺对保护气体纯度要求近乎苛刻——纯氩中氧含量需严格控制在50ppm以下,否则将引发焊缝氧化、气孔缺陷等严重质量问题。英国Alphasense公司推出的O2-A3氧气传感器,凭借其ppm级检测精度与快速响应速度,成为氩弧焊工艺中氧浓度控制的“核心工具”。氧含量超标:氩弧焊质量的“隐形killer”氩弧焊通过纯氩气隔绝空气,防止焊接区域氧化。但若氩气中氧含量超过50ppm,将导致以下问题:1.焊...
10-21
在芯片制造的精细战场上,氧浓度每偏离设计值1ppm,就可能导致晶圆表面氧化层厚度误差超标5%、晶体管性能波动20%,甚至整批芯片报废。从光刻胶固化到化学气相沉积(CVD),从原子层刻蚀(ALE)到高温退火,氧气浓度的精准控制贯穿芯片制造全流程。英国Alphasense公司推出的O2-A3氧气传感器,凭借其±0.05ppm级检测精度、8秒超快响应与工业级抗干扰能力,成为半导体洁净车间中不可huo缺的“精细守门人”。芯片制造的“氧浓度生死线”在3nm及以下先进制程中...
10-21
美国Edgetech冷镜露点仪DewTrakII测量优势在工业湿度控制领域,-20℃露点以下的低温环境对测量精度与稳定性提出了严苛挑战。传统电容法露点仪虽以响应速度快著称,但在低温场景中常因介质材料收缩、传感器污染等问题导致误差飙升;美国EdgetechDewTrakII冷镜露点仪,凭借测量原理与技术创新,在低温环境下展现出零号优势。美国Edgetech冷镜露点仪DewTrakII测量优势电容法通过测量气体中水蒸气引起的电容变化推算露点,但在-20℃以下低温环境中,传感器介质...
10-21
美国Edgetech冷镜露点仪DewTrakII降低碳钢管道腐蚀速率在石化行业,碳钢管道因长期接触含硫化氢、氯离子等腐蚀性介质的气体,常面临严重的电化学腐蚀威胁。当气体中水分含量超过-20℃露点时,水膜会加速腐蚀进程,导致管道年腐蚀速率高达0.3mm,设备寿命大幅缩短。美国EdgetechDewTrakII冷镜露点仪,凭借其良好测量精度与智能预警系统,成为破解这一难题的“防腐密码”。美国Edgetech冷镜露点仪DewTrakII采用两级热电冷却(TEC)技术,通过准确控制镀...
10-21
美国Edgetech冷镜露点仪DewTrakII在晶圆制造中的露点控制在半导体制造领域,晶圆制造对环境湿度的控制已从辅助参数升级为决定产线存亡的核心指标。随着5nm、3nm甚至更先进制程的推进,一颗灰尘、一滴凝露都可能让价值数万美元的晶圆沦为废品。美国EdgetechDewTrakII冷镜露点仪,凭借其良好测量精度与可靠性,成为半导体超净车间湿度控制的“新标准守护者”美国Edgetech冷镜露点仪DewTrakII在晶圆制造中的露点控制湿度失控:晶圆制造的“隐形杀手”半导体制...