在半导体与电子工业中,氯气干法蚀刻是制造芯片和微电子器件的关键工艺,通过氯基等离子体精确去除材料层,赋予产品纳米级的精细结构。然而,氯气的高毒性与强腐蚀性,使得蚀刻车间的浓度监控成为安全管理的核心环节。一旦氯气泄漏或浓度失控,不仅危及操作人员健康,还可能导致价值高昂的晶圆报废。英国Alphasense推出的CL2-A1氯气传感器,以其出色的性能参数,为半导体蚀刻车间的氯气精准监测提供了可靠方案。
高灵敏度与快响应,守护蚀刻精度。 半导体蚀刻工艺对氯气浓度的波动十分敏感,CL2-A1在10ppm氯气中的灵敏度为±0.4 nA/ppm,从零点到10ppm的t90响应时间小于60秒(33Ω负载电阻),能够在浓度异常时迅速发出预警信号,为操作人员调整工艺参数或启动排风系统争取宝贵时间。

宽量程覆盖,适配蚀刻工况。 蚀刻设备内部氯气浓度较高,而设备周边及排气口则以低浓度为主。CL2-A1的量程为0~350ppm,其中0~5ppm区间呈线性响应,既能满足设备周边微量泄漏的精准检测,也能覆盖蚀刻腔体内部高浓度环境的监控需求。其过载能力达50ppm,可对气体脉冲实现稳定反应,有效应对蚀刻开腔瞬间的浓度冲击。
环境适应力强,满足洁净室要求。 半导体车间通常温湿度控制严格,CL2-A1的工作温度范围为-20°C至50°C,湿度适应范围达15%至90%RH,压力适应范围为80至120kPa,wan全覆盖洁净室及配套设施的各类工况。其零点漂移每年小于0.05ppm,灵敏度漂移每年小于10%,工作寿命超过24个月,长期运行仍能保持稳定输出,显著降低了传感器的更换频率。
抗干扰出色,确保数据可靠。 半导体车间中可能存在H₂S、NO₂、SO₂等多种工艺伴随气体,CL2-A1对CO(400ppm)、H₂(400ppm)、C₂H₄(400ppm)等气体的灵敏度影响均低于0.1%,即便在多气体共存的复杂环境中,也能准确输出氯气浓度数据,避免干扰导致的误报。
CL2-A1重量不到6克,搭配33Ω优化负载设计,可灵活集成于固定式在线监测系统或便携式巡检设备中,广泛部署于蚀刻腔体、氯气供气管路及废气处理通道等关键节点,为半导体产线筑起一道可靠的氯气安全防线