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美国Edgetech冷镜露点仪DewTrak II无需校准即可长期稳定

更新时间:2025-10-24      点击次数:44

 美国Edgetech冷镜露点仪DewTrak II无需校准即可长期稳定

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在湿度测量领域,美国Edgetech DewTrak II冷镜露点仪,通过直接测量镜面冷凝温度实现露点值获取,其主要优势在于无需定期校准即可长期保持稳定性,这一特性在制药、石化等对湿度控制要求严苛的行业中尤为重要。美国Edgetech冷镜露点仪DewTrak II无需校准即可长期稳定

DewTrak II采用两级热电冷却(TEC)技术,通过半导体致冷元件精确控制镜面温度至±0.01℃。当样气流经镜面时,系统实时监测冷凝层形成状态:镜面温度高于气体露点时保持干燥,温度降至露点时水蒸气凝结形成露层。此时,光学检测模块通过光电二极管感知反射光强变化,触发PID温控算法动态调整制冷功率,使镜面温度与气体水蒸气分压达到动态平衡。这种物理级测量直接反映气体湿度本质,避免了传统传感器因介质吸湿、信号漂移等产生的误差。美国Edgetech冷镜露点仪DewTrak II无需校准即可长期稳定

美国Edgetech冷镜露点仪DewTrak II稳定性源于三大技术突破:其一,双级冷镜传感器采用高纯度银镀层镜面,表面粗糙度低于0.01μm,有效抑制污染物附着;其二,气路系统采用316L不锈钢与PTFE材质,配合0.01μm核级过滤器,可拦截99.7%的固体颗粒;其三,内置镜面加热除污系统可定时自动清洁,结合抗粉尘干扰算法,即使镜面附着微米级颗粒仍能通过信号修正保持测量精度。在某生物药原液车间的180天连续运行测试中,DewTrak II数据有效性达99.7%,远超行业平均水平。美国Edgetech冷镜露点仪DewTrak II无需校准即可长期稳定

在制药领域,DewTrak II将无菌制剂区湿度波动控制在±2%RH以内,颗粒污染风险降低60%;在石化行业,其通过实时监测原料气露点温度,使碳钢管道年腐蚀速率从0.3mm降至0.05mm。这些案例证明,物理级测量结合抗污染设计,使DewTrak II在-40℃至65℃宽温区内实现±0.2℃露点精度,且长期运行无需校准,重新定义了工业湿度控制标准。美国Edgetech冷镜露点仪DewTrak II无需校准即可长期稳定

                      

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